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    2020-08-12 17:38
  • 新思发布TetraMAX II 低价高速成就高质量IC

    随着芯片制程节点从28nm逐渐向16/14nm、7nm发展,晶元测试成本越来越高、自动测试向量生成时间越来越长、晶元测试的延误时间更长。另外,随着设备计算内核的增加,高ATPG内存占有率严重限制设备内核使用。在此趋势下,7月18日,电子设计自动

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    2016-08-01 11:51
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    2016-07-28 10:00
  • 测试环路滤波器及射频电路设计详解

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    2015-04-07 11:16

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