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  • NI PXI半导体测试系统挑战ATE主流地位

    PXI模组化架构的半导体测试系统问世。美商国家仪器(NI)发布首款采用PXI模组化架构开发的自动化半导体测试系统,标榜兼具更低测试成本、更高功能扩充性及更快部署的优势,为传统半导体自动化测试设备(ATE)制造商带来不可小觑的威胁。美商国家仪器精

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    2014-09-09 08:49
  • ATE市场复苏 Verigy布局高端存储器市场

    随着半导体行业的整体复苏,2010年ATE市场预计也将翻番。但存储器行业由于2009年产能的下降及奇梦达的破产,二手ATE测试设备还处于消化过程中。为布局即将增长的存储器测试市场,Verigy推出了全新的适用于未来3代高速存储器的测试解决方案V

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    2010-07-28 13:41

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