吉时利ACS基础版V1.2为半导体测试应用提供高产能体验
吉时利仪器公司日前针对半导体测试与测量应用推出ACS基础版半导体参数测试软件的最新版本。ACS基础版V1.2进一步提高了元件或离散（封装的）半导体器件特征分析的可用性、便捷性和测试产能。它具有Trace模式，能够实时检查测量结果，采用交互的方式控制电压扫描，避免紧急情况下可能出现的器件击穿。除了完全支持吉时利各种数字源表（SMU）之外，ACS基础版将高速硬件控制、器件连接和数据管理功能集成在一套简洁易用的工具中， 并针对部件验证、调试和分析进行优化。
更高的测试产能
ACS基础版为用户提供了令人难以置信的丰富的快速易用测试库，用户无需编程。直观的GUI功能简化了多种I-V测试、数据采集和分析操作。即使是新用户也能够快速实现半导体元件测试，产生一系列曲线，然后立即与基准曲线进行对比。尽管预先配置的测试例程将测试启动时间缩短至最短，用户仍然可以灵活地优化测试或整个测试系统。
ACS基础版V1.2最新的Trace模式支持器件的交互式测试。用户利用这种功能可以定义工作范围，并对DUT进行特征分析，同时避免损坏器件。在这种交互式模式下，用户可以通过虚拟滚动条或者PC键盘上的箭头键，很方便地控制扫描电压的大小。
适用于多种应用
ACS基础版为从事封装部件特征分析工作的广大技术人员和工程师们实现了最大的测试产能，应用范围涵盖从早期器件研究到开发、质量验证和故障分析等过程。无论对于大学的研究人员还是新兴器件的开研者，它都能够提供很好的服务，帮助用户成功实现从单纯性研究到商业化应用的转换。它还能够应用于半导体代工厂或公司中，帮助用户实现以元件级工艺优化为目的的试生产，支持QA、故障分析和生产后端测试。