爱德万测试发布最新模组 大幅提升EVA100测量系统针对高解析、高速IC的测试能力

爱德万测试发布最新模组 大幅提升EVA100测量系统针对高解析、高速IC的测试能力

　　半导体测试设备领导供应商爱德万测试(Advantest;TSE: 6857)发布最新HF-AWGD(高频任意波形产生器与示波器)模组，进一步扩充EVA100测量平台的功能，将高解析、高速类比装置的测试也纳入其中。有了新模组加持，EVA100系统得以测量混合讯号、精密与标準类比半导体的所有关键参数。这些半导体广泛应用于目前正高速成长的市场，包括车载电子。

　　同时配备高速、双通道任意波形产生器与示波器的HF-AWGD模组，是包括16位元ADC与运算放大器等精密装置在内，强而有力的分析工具。此模组在软体方面採用直觉式设计，并拥有高速取样技术，可选择依照AWG模式(以波形档案为基础)或波形产生器模式(不使用波形档案)来产生波形。AWG系统 -102dB的超低谐波失真，能成就极致精準度。此外，其大容量波形记忆体可以大量取样，而内建示的波器则涵盖宽广的输入範围，再加上高类比频宽，可满足不同精準度和高速转换器、无线基频装置的测量需求。

　　爱德万测试常务执行董事Satoru Nagumo表示：「我们最新的HF-AWGD模组进一步扩大已获市场肯定之EVA100测量系统的功能範围，不仅操作设定更简便，除错、验证作业也更快速，有助加快产品上市时程。对于结合类比与数位功能于单一IC上的智慧型装置来说，採用整合式设计并且性能领先业界的EVA100，是满足厂商测量需求的首选。此类智慧型装置目前在感测、行动通讯和电源管理等各类应用上都有广大的市场。」

　　爱德万测试EVA100系统无论是针对设计还是产品的测量作业都採用相同的测试序列，客户因此得以在整个作业过程中建立标準化的测量环境。由于半导体製造商再也不需要耗费时间与资源统合来自不同系统的测试资料，故能大幅缩短产品上市的时间。此外，EVA100系统採用诉诸直觉的图形化辅助使用者操作介面(GUI)，不需要复杂的程式语言。

　　HF-AWGD模组已获爱德万测试多个客户实际採用，执行举凡影像感测器、资料转换器和其他装置的测量作业。

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