有助于制造工程的质量改善——透过型数字位移传感器HG-T

有助于制造工程的质量改善——透过型数字位移传感器HG-T

透过型数字位移传感器HG-T实现最小重复精度：1μm高精度测量（※1）。

通过弯曲控制（※2）精度提升，有助于锂电池、半导体和液晶制造工程的质量改善。

※1：防止片材或薄膜在制造过程中弯曲并造成产品缺陷，控制监测片材是否弯曲、测量片材两端的位置。
※2：确保制造工程中片材和薄膜的两端位置保持不变，控制操作、完成自动修正。

主要特点：

1．高精度测量
实现最小重复精度1μm高精度测量，可在锂电池电池卷绕机部中提升弯曲控制的精度、有助于制造工程的质量改善。

２．可安装在装置内等受限的空间内的超薄型尺寸
传感器头部的受光端备有「标准型」和「窄长型」 。

没有光轴调整指示灯的「窄长型」，可以安装在装置内等受限空间内，有助于制造装置的小型化。

另外备有搭载光轴调整指示灯的「标准型」，设置简单、可配合客户用户进行选择。

３．备有光轴调整功能、传感器光头设置简单
控制器配备光轴调整辅助功能，可以通过传感器光头的指示灯及控制器上的显示部，对传感器光头的位置偏移简便进行设置调整。

４．配备各种功能，解决制造工程的课题

【即使是透明的工件，也能稳定地进行测量】可根据透明程度来调整判定水准。

【大幅减少污渍带来的影响】可感知因污渍堆积引起的检测能力下降。

【防止微小异物造成的影响】调整判定滤波值，防止微小异物造成的误检测。

用途：

规格：

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