安捷伦推出信号完整性分析系列应用指南

安捷伦推出信号完整性分析系列应用指南

     内容：安捷伦免费提供信号完整性分析系列应用指南（分为3个部分）：
    • 第1部分：单端口TDR、TDR/TDT和双端口TDR
    • 第2部分：4端口TDR/VNA/PLTS
    • 第3部分：反嵌入技术说明
    
     这3个信号完整性应用指南将为用户执行以下任务提供有益的帮助：建立拓扑模型、S参数行为模型；表征上升时间衰减、互连带宽、近端或远端串扰、奇模式、偶模式、差分和共模阻抗、模式转换；进行完整差分通道表征等。本应用指南系列尽量以浅显易懂的语言来说明重要的技术问题，帮助您一次就成功地完成设计，最大限度减少重复设计。
    

     第1部分介绍时域反射计（TDR）。讨论的问题包括：为什么TDR不仅仅是探测传输线路阻抗中断的工具，以及如何使用TDR执行超过40种表征、建模和仿真应用。
    
     第2部分介绍使用矢量网络分析仪（VNA）和安捷伦物理层测试系统（PLTS）的4端口TDR。讨论的问题包括使用VNA的4端口TDR是如何对高速数字设计执行100多种关键表征、建模和仿真应用；以及如何使用PLTS应用软件、功能强大的VNA和易于使用的TDR执行互连分析。
    
     第3部分介绍反嵌入技术，其中将详细讨论为什么反嵌入技术在先进信号完整性测量和校准中是不可或缺的纠错技术。应用指南将对各种纠错技术与反嵌入技术进行比较，以便最大限度减少测试夹具的误差（例如插入损耗、反射和相位误差）。
    
     下载免费拷贝： www、agilent、com/find/plts 或 www、agilent、com/find/multiport
    
     信号完整性分析系列，第1部分：单端口TDR、TDR/TDT和双端口TDR，5989-5763EN
    
     信号完整性分析系列，第2部分：4端口TDR/VNA/PLTS，5989-5764EN
    
     信号完整性分析系列，第3部分：反嵌入技术说明，5989-5765EN