Tektronix推出适用于即时示波器的PAM4光学分析解决方案

来源:Tektronix 作者: 时间:2017-09-21 10:02

Tektronix 示波器 光学分析

  全球领先的量测解决方案供应商--- Tektronix 今日推出全新的 DPO7OE1,这是一种可与即时示波器搭配使用的校準光学探棒和分析软体 ,是相容于 28-GBaud PAM4 应用的光学参考接收器 (ORR),并可支援 IEEE/OIF-CEI 标準特定量测。全新的解决方案补足了 Tektronix 的取样示波器光学 PAM4 分析工具功能,为设计团队提供了有效的测试解决方案,适用于光发射器工作流程的所有阶段。

  这款新产品以即时示波器 (如 PO70000SX) 为基础,使研发和系统工程师可增加强大的除错功能,更轻鬆地对其光学装置进行疑难排解:PAM4 和 NRZ 的软体时脉还塬、触发、错误侦测,以及撷取时间相关或连续的讯号记录。

  Maxim Integrated 高级研发总监 Jan Filip 表示:「像 PAM4 这样的先进光学调变格式同时需具备取样和即时示波器来进行系统测试。以即时示波器为基础的全新解决方案使我们能为开发团队提供关键的除错回馈,并可使用离线 Matlab 演算法模拟先进的光学接收器系统。Tektronix 为我们的光学和 PAM4 测试要求提供了效能最佳的即时示波器侦测解决方案,是我们先进量测平台的策略合作伙伴。」

  Maxim Integrated 是一间提供适用于资料中心应用的高速、低功耗光学装置的製造商,对于以即时示波器为基础的光学 PAM4 解决方案的价值有着深刻的体验。

  应用与分析套件

  DPO7OE1 为 28-GBaud PAM4 除错应用提供 33 GHz 光学频宽,同时亦可用于旧型 NRZ 应用。分析套件支援包括 ER、AOP、OMA、眼图高度和眼图宽度等标準光学量测,以及包括 TDECQ 在内的 PAM4 IEEE 和 OIF-CEI 标準特定量测。



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