Agilent参展NEPCON 展示新型电子制造测试产品

Agilent参展NEPCON 展示新型电子制造测试产品

     （华强电子世界网讯) 日前，安捷伦科技在上海举行的2004年国际电子生产设备暨微电子工业展（NEPCON Shanghai 2004）上展示了多种新型电子制造测试产品，再次体现了安捷伦科技在中国市场的优势领先地位。此次安捷伦展出的产品系列广泛，通过最新的AOI、X光和ICT突破性技术、多种相互补充的解决方案，为用户解决测试和检测中最棘手的问题及任何制造问题，是目前业内唯一完整的测试系列。
    
     此次展出的安捷伦自动光学检测系统组合包括一流的安捷伦SP50系列II和SJ50系列II，两个系统都引入了关键技术，将自动光学检测的准确度和灵活性提高到了一个前所未有的程度。据悉,SP50 系列 II具有一流的分辨率，性能卓越，具有速度快捷，分辨率高、缺陷报警准确、成品率更高等特点；SJ50系列II系统完善的SPC和闭环路解决方案，提供了杰出的流程反馈，它采用新型固态建模（SSM）技术，通过3D彩色AOI，提供最高的缺陷报警准确性，同时采用业内领先的OCR和OCV，提供杰出的工艺控制和早期检测能力。
    
     本次展出的其他产品还包括安捷伦维修工具（ART）、安捷伦质量工具（AQT）、安捷伦3070数字在线测试解决方案、安捷伦新型无矢量测试解决方案等。