NI中国设计的数据采集卡荣获金奖

来源:E代电子 作者: 时间:2005-09-20 17:35

     (华强电子世界网讯) 2005年9月,NI宣布其中国本地研发工程师自主设计的一款USB 2.0数字I/O产品——NI USB-6501荣获2005年度《欧洲嵌入式控制》(Embedded Control Europe , ECE)杂志“I/O板卡和数据采集”大类的读者选评金奖。这一荣誉和今年年初“NI 3款由中国工程师设计的隔离式DIO/TIO卡位列美国ECN杂志年度技术成果大奖板卡和模块产品类 (Boards and Modules category of the ECN Technology Awards) 首位”一起,见证了NI中国工程师的聪明才智和NI中国研发中心的强大实力。
    
      今年上半年,ECE在其杂志和网站共发布了1000多种产品的新闻信息,该刊的专业读者群可以通过www。Embedded-Control-Europe。com的门户网站、eletter、ECE杂志和《板卡及解决方案》杂志(Boards & Solutions magazine)等各个渠道投票评选他们认可和赞赏的产品。NI USB-6501就是“I/O板卡和数据采集”大类中最受读者欢迎的产品。
    
      NI USB-6501是目前NI数据采集产品线中价位最低的USB数字I/O设备,鉴于该产品具有较小的尺寸、即插即用的连接性和便携性能,所以它是为高校师生和工程技术人员进行教研、实验室自动化等应用的理想选择。此外, NI一直致力于拓展数据采集产品线,包括便携式、高性能的USB数据采集卡,在过去两年时间内,已经向市场推出了二十多款USB产品。
    
      NI全球研发中心中国地区经理郭文哲先生表示:“NI早在1998年就在上海设立了研发机构,这充分证明了我们对于本地人才的关注和信心。NI非常欣喜地看到中国工程师所作出的贡献和世界级奖项的获取,我们对此引以为傲。”
    
    

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(编辑 甘心)

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