吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试和九槽机架结构
先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司，日前宣布对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KETI）V7.2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库，扩展了系统电容-电压（C-V）测量功能的频率范围，支持该公司最新九槽4200-SCS仪器架构。
KTEI V7.2新增测试库增强了4200-SCS进行太阳能电池I-V、C-V和电阻测试的功能，随着市场对可替代能源技术更加关注、政府支持力度加大的情况下，此类测试功能将变得更加重要。本次软件升级支持最新太阳能电池测试技术DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling，激励电平电容压型），而采用原来的测试方案很难精确测试。DLCP能提供薄膜太阳能电池上的缺陷密度信息，2007年11月份推出的4200-CVU型电容-电压测试卡经过改动可直接支持这一测试技术。KTEI V7.2版对现有4200-SCS用户免费。
为支持DLCP测试，4200-CVU的频率范围从10kHz～10MHz扩展到1KHz～10MHz。经扩展的频率范围也扩大了系统的应用领域，支持平板LCD和有机半导体（例如有机发光二极管OLED）测试。
随着I-V、脉冲和C-V特征分析应用的不断增长，需要更大测试灵活性和更强功能的4200-SCS用户逐渐发现主机有些拥挤不堪。为满足这一需要，本次V7.2版升级支持九槽主机架构。以前的4200-SCS有八个插槽，安装越来越多的源测量单元（SMU）、脉冲发生器和示波器卡以及电容-电压测量卡。现在的4200-SCS系统经过升级可以支持九个插槽；所有新的主机都将提供九个插槽。
为支持V7.2版的升级，吉时利推出一款新的高性能三同轴线缆套件，用于连接4200-SCS和探测器，能大大简化在直流I-V、C-V和脉冲测试配置之间转换的过程。本款新的线缆套件无需用户重新进行布线即能消除由于布线误差导致的测量误差。其中包括两种线缆套件——一种适用于Cascade Microtech探测器，另一种适用于SUSS MicroTec探测器。
不断增强的系统功能确保产能不断增长
吉时利4200-SCS以一套紧密集成的特征分析解决方案取代了多种分离的电气测试工具，是可靠性实验室、材料与器件研究实验室进行半导体技术研究、工艺研发和材料研究的理想选择，能满足所有需要台式直流或脉冲测试仪的实验室的需要。自推出4200-SCS系统以来，吉时利不断增强其硬件和软件功能。吉时利对系统不断更新的承诺确保用户能够获得高性价比的升级途径，用户无需因为原有仪器过时而购买新的参数分析仪。系统通过高性价比的升级能满足业界不断增长的测试需求，相比竞争对手的测试方案，用户对4200-SCS的固定资产投资有效期更长。
吉时利仪器公司作为半导体器件特征分析和参数测试系统领先供应商，为全球各地用户提供电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和脉冲I-V测量与分析所需的各种灵活解决方案。产品涵盖从台式仪器到成套系统，应用于材料分析、器件特征分析、圆片级可靠性分析、工艺控制监测等领域。吉时利通过其庞大的现场服务中心网络以及具有半导体专业技术知识的应用工程师，为全球半导体用户提供密切的服务。
KTEI V7.2新增测试库增强了4200-SCS进行太阳能电池I-V、C-V和电阻测试的功能，随着市场对可替代能源技术更加关注、政府支持力度加大的情况下，此类测试功能将变得更加重要。本次软件升级支持最新太阳能电池测试技术DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling，激励电平电容压型），而采用原来的测试方案很难精确测试。DLCP能提供薄膜太阳能电池上的缺陷密度信息，2007年11月份推出的4200-CVU型电容-电压测试卡经过改动可直接支持这一测试技术。KTEI V7.2版对现有4200-SCS用户免费。
为支持DLCP测试，4200-CVU的频率范围从10kHz～10MHz扩展到1KHz～10MHz。经扩展的频率范围也扩大了系统的应用领域，支持平板LCD和有机半导体（例如有机发光二极管OLED）测试。
随着I-V、脉冲和C-V特征分析应用的不断增长，需要更大测试灵活性和更强功能的4200-SCS用户逐渐发现主机有些拥挤不堪。为满足这一需要，本次V7.2版升级支持九槽主机架构。以前的4200-SCS有八个插槽，安装越来越多的源测量单元（SMU）、脉冲发生器和示波器卡以及电容-电压测量卡。现在的4200-SCS系统经过升级可以支持九个插槽；所有新的主机都将提供九个插槽。
为支持V7.2版的升级，吉时利推出一款新的高性能三同轴线缆套件，用于连接4200-SCS和探测器，能大大简化在直流I-V、C-V和脉冲测试配置之间转换的过程。本款新的线缆套件无需用户重新进行布线即能消除由于布线误差导致的测量误差。其中包括两种线缆套件——一种适用于Cascade Microtech探测器，另一种适用于SUSS MicroTec探测器。
不断增强的系统功能确保产能不断增长
吉时利4200-SCS以一套紧密集成的特征分析解决方案取代了多种分离的电气测试工具，是可靠性实验室、材料与器件研究实验室进行半导体技术研究、工艺研发和材料研究的理想选择，能满足所有需要台式直流或脉冲测试仪的实验室的需要。自推出4200-SCS系统以来，吉时利不断增强其硬件和软件功能。吉时利对系统不断更新的承诺确保用户能够获得高性价比的升级途径，用户无需因为原有仪器过时而购买新的参数分析仪。系统通过高性价比的升级能满足业界不断增长的测试需求，相比竞争对手的测试方案，用户对4200-SCS的固定资产投资有效期更长。
吉时利仪器公司作为半导体器件特征分析和参数测试系统领先供应商，为全球各地用户提供电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和脉冲I-V测量与分析所需的各种灵活解决方案。产品涵盖从台式仪器到成套系统，应用于材料分析、器件特征分析、圆片级可靠性分析、工艺控制监测等领域。吉时利通过其庞大的现场服务中心网络以及具有半导体专业技术知识的应用工程师，为全球半导体用户提供密切的服务。