泰克TLA7SA00系列逻辑分析仪荣获最佳测试奖

泰克TLA7SA00系列逻辑分析仪荣获最佳测试奖

泰克公司日前宣布，其 TLA7SA00系列逻辑分析仪在《Test & Measurement World》的2011年度评奖活动中荣获“最佳测试奖”（Best in Test Award）。

在2011年5月4日“嵌入式系统大会”（Embedded Systems Conference）举行期间进行的颁奖仪式上，TLA7SA00系列逻辑分析仪被授予“总线分析仪”类别的最佳产品奖。“最佳测试”奖分16个类别。参加2011年“最佳测试奖”评选的产品或服务必须是在2009年11月1日至2010年10月31日之间推出的产品或服务。

“我们再次对各厂商提名的许多出色产品进行了评审”，UBM Electronics旗下杂志《Test & Measurement World》的编辑部主任Rick Nelson表示，“我们向泰克公司取得这一成就表示祝贺。”

 TLA7SA00系列是泰克去年四月推出的综合性PCI Express 1.0/2.0/3.0测试解决方案，集协议分析与物理分析于一体。该解决方案包括TLA7SA16和TLA7SA08逻辑协议分析仪模块、总线支持软件及探头，为PCIe开发者了解系统行为提供了独一无二的时间相关视图，从协议分析开始一直到物理层分析，帮助查找棘手问题的根本原因。

“总线速度及复杂性一代胜过一代，我们意识到需要有一种将协议、逻辑及物理分析结合起来的新解决方案，以便更有效地确定棘手软硬件问题的原因”，泰克公司逻辑分析产品线总经理Dave Farrell表示，“TLA7SA00系列荣获最佳测试奖是对我们基于‘客户第一’原则的肯定，这一原则始终贯穿在我们重新定义总线分析测试仪的过程中。”