Synopsys将用于Grade 0汽车应用的DesignWare NVM IP面积缩小75%
来源:华强电子网 作者:------ 时间:2014-07-10 09:32
新思科技公司日前宣布其用于高压工艺的DesignWare AEON Trim NVM IP开始供货。与其它的NVM IP解决方案相比,该款全新的IP将面积缩小达75%,同时有助于降低汽车IC的成本和尺寸。该IP可用于标准的180纳米5V CMOS和BCD工艺,而不需要额外的光罩或工艺步骤。DesignWare NVM IP支持Grade 0汽车应用所需要的宽温度范围,并且超过了AEC-Q100品质标准要求。此外,与其它的NVM解决方案相比,其更快的擦写时间将NVM测试时间缩短了3倍,使设计师能够有效缩短生产测试时间,同时将汽车和工业芯片的测试成本降至最低。
“ZMDI强劲可靠的、符合AEC-Q100的IC提供了先进的传感器信号调节功能和可配置性,并且集成了DesignWare AEON Trim NVM IP,有助于确保高数据保持能力和高可靠性,同时最大限度地减少面积和测试时间,”ZMDI全球和战略质量执行副总裁Michael J. Ohletz博士表示:“设计师需要为标准严苛和环境恶劣的汽车引擎盖内环境挑选元器件,他们需要寻找经过验证的、能够可靠地承担15年或以上关键安全功能的IP解决方案。ZMDI之所以选择了Synopsys的NVM IP,是因为该IP可以满足我们极其严格的规格,以及我们都要生产可靠的、高质量的产品这一共同承诺。”
亮点:
? Synopsys用于高压工艺的DesignWare? AEON? Trim非挥发性存储器(NVM)IP的面积比现有NVM IP缩小了75%,从而降低了高可靠性汽车IC的成本和尺寸
? 满足严苛的Grade 0汽车温度范围(-40C到150C)和AEC-Q100品质要求
? 与其它IP产品相比,其快速擦写模式和专有的测试模式将NVM测试时间缩短了3倍
? 15年以上数据保持时间,保证汽车和工业安全系统的数据稳定
随着汽车IC市场的增长,设计师需要满足面向汽车引擎盖内极端环境的既定质量和可靠性标准,即使很小的IC也要考虑成本和尺寸因素。高压工艺的DesignWare AEON Trim NVM IP凭借Grade 0级温度范围和15年以上的数据保持能力,使设计师能够实现更严苛和对安全要求很高环境的应用。
用于高压工艺的DesignWare AEON Trim NVM IP包括特殊的测试模式,该模式提高了擦写速度,并且将测试成本和测试时间降低达3倍。例如,该IP包括批量操作,使设计者能够通过单次操作对整个阵列进行快速擦写。此外,设计者可以选择能够模拟温度效应的测试条件和测试标准,从而省去了对整个温度范围的测试。
“开发汽车IC的设计师们越来越希望NVM IP供应商能够支持Grade 0级汽车温度范围和AEC-Q100标准,同时降低IP面积和测试时间,”Synopsys IP和原型设计营销副总裁John Koeter表示:“Synopsys DesignWare AEON Trim NVM IP能够满足或超过他们在各个方面的期望值。带有DesignWare NVM IP的IC每年的发货量超过了5亿片,Synopsys在提供高质量IP的成功记录,使设计师能够满足行业对更小尺寸、更低成本和高性能IC的要求。”
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