NI展出三大半导体测试解决方案

NI展出三大半导体测试解决方案

　　看準复杂且日新月异的智慧装置市场，驱动半导体设备商对多重测试的强劲需求，国家仪器(NI)于2016 Semicon Taiwan展期祭出叁大半导体测试解决方案，分别为可搭配半导体测试系统(STS)使用的高功率RF模组、ATE等级的PXIe-6570数位波形仪器，以及兼具速度与灵敏度的PXIe-4135电源量测单元(SMU)。

　　为了更完整半导体测试的产品选择，NI推出的PXIe-6570数位波形仪器与NI Digital Pattern Editor，将高阶数位测试平台才具备的数位测试功能引进到开放式的PXI平台中，让工程师可妥善运用波形编辑器，与除错工具降低整体的测试成本，提升RF与类比IC的传输率，并让电源管理IC、MEMS装置与混合讯号IC製造商突破传统半导体自动化测试设备的封闭架构，成为具备ATE等级的数位仪器，有助于企业缩短产品的上市时程。

　　而在半导体的电源量测方面，NI PXIe-4135 SMU具备10 fA的高灵敏度与高达200V的电压输出，可测试低电流讯号并进行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与各种IC特性测试。此外，工程师还可透过模组化的PXI SMU打造体积精巧、平行的多通道数系统，同时享有多达68个SMU通道的单一PXI机箱，能够针对数百个通道执行晶圆稳定性测试与平行测试。

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