低电压检测IC的复位电路

低电压检测IC的复位电路

低电压检测IC的复位电路

? 当内建的低电压复位电路的电压与应用规格不同时，可选用外部低电压检测IC 的复位电路。
? 可提供低电压复位功能，需配合外部简易型RC 复位电路或高抗干扰RC 复位电路来达到完整的复位功能。
? RRES、CRES、RN 和CN 的建议数值与简易型RC 复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。
? CRES(针对简易型RC 复位电路)和CN(针对高抗干扰RC 复位电路)在PCB 板上的位置及布线要求与简易型RC复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。

内部POR 电路和内部低电压复位电路
? 为加强MCU 的保护完整性，并简化外部应用电路设计及成本，在MCU 内部提供有上电复位(POR)电路和低电压复位(LVR)电路。
? POR 电路主要是内建一组低RC 时间常数的复位电路，具有上电时产生复位的功能。其对MCU 内部的初始化动作，除了TO 和PDF 旗标被清为“0”之外，其余的状态均与RES 复位相同。当使用此复位功能时，因POR 时间常数较小，为了使POR 可以正常动作，电源上升速度应尽量要求快速。
? LVR 电路主要功能是当VDD 小于特定电压(视规格而定)，且持续时间大于1ms 时，LVR 将会被激活，其对MCU 内部的初始化动作与RES 复位相同