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近日，基于美国国家仪器(NationalInstruments，以下简称“NI”)的PXI源测量单元(SMU)，专注利用人工智能驱动半导体测试测量的北京博达微科技有限公司(简称“博达微”)宣布推出最新基于机器学习的半导体参数化测试产品FS-Pr
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NI国家仪器身为平台式系统供应商，可协助工程师与科学家解决全球最艰鉅的工程挑战，推出NIPXIe-4135电源量测单元(SMU)提供10fA的量测灵敏度与高达200V的电压输出。透过NIPXISMU的灵活弹性、高通道数密度、绝佳的测试输出率，工
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先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器日前宣布，推出其最新的支持电容触摸屏图形用户界面(GUI)的台式源测量单元(SMU)仪器---2460。该仪器向用户提供基础测量精度为0.012%，分辨率为6位半的更高功率源(可达105V电压、7A2014-11-07 13:26