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多协定测试机-标签
爱德万发表针对固态硬碟设计之多协定测试机
半导体测试领导厂商爱德万测试将在8月9日至11日,于加州圣克拉拉第11届年度快闪记忆体高峰会(FlashMemorySummit)上,展示两款用于测试晶片、模组与系统等级先进储存装置的多协定系统。爱德万测试为本届峰会翡翠级赞助商。在此次高峰会期
爱德万
固态硬碟
设计之
多协定测试机
2016-08-11 09:46