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NI加强STS的RF量测效能降低半导体测试成本

NI发表半导体测试系统(STS)的全新RF功能，包含高功率传输与接收、FPGA架构的Real-Time封包追踪，以及数位预失真。高功率RF埠是STS改良规划中最新的项目之一，能够帮助RF前端模组製造商满足RFIC与其他智慧型装置的多重测试需求，

NI STS RF量测效能半导体

2016-09-06 10:08