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FLIR ETS320红外热像仪，专为实验室工作而生
现在，电子元件和印刷电路板运行速度越来越快，体积越来越小，通过使用小零件实现高性能、高速度，达到皮秒(万亿分之一秒)级的精度已经成为了一种潮流，但这也这就意味着零件会发热，甚至出现短路或者部件受损的情况。所以检测这些由于发热而受损的部件对于科研
现在，电子元件和印刷电路板运行速度越来越快，体积越来越小，通过使用小零件实现高性能、高速度，达到皮秒(万亿分之一秒)级的精度已经成为了一种潮流，但这也这就意味着零件会发热，甚至出现短路或者部件受损的情况。所以检测这些由于发热而受损的部件对于科研
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