宜特LED之LM-80全方位验证分析研讨会6月登场

来源:LED环球在线 作者:--- 时间:2011-05-24 00:00

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  宜特科技(IST)於日前宣布,将於6/16举行「LED之LM-80全方位验证分析研讨会」。LED节能照明相较传统照明的优点为高效能/长寿命,但因其高热导致光通量衰减的寿命问题,却是目前灯具厂及LED元件厂急欲解决的议题。然而目前LED元件所进行的光衰与寿命数据与LED灯具光衰与寿命数据两者之间出现不一致现象,亦无一致性或共通性标准可供参考。


  有监於此,IESNA(北美照明工程协会)提出LM-79与LM-80之测试方法,以实验数据辅以数学统计模式以获得一致性之寿命数据,目前美国国家环境保护局(EPA)针对LED所颁发的能源之星标章(ENERGY STAR)亦以此方法做为室内/户外LED元件与灯具光衰之判定标准。为加速LED厂商导入ENERGY STAR认证并加速进入市场,宜特科技邀请IESNALM-80规范制订委员JeffHulett与宜特科技共同主讲,从规范精神、试验目的以及如何使用正确的设备与方法执行LM-80验证。

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