NI PXI半导体测试系统挑战ATE主流地位

　　PXI模组化架构的半导体测试系统问世。美商国家仪器(NI)发布首款采用PXI模组化架构开发的自动化半导体测试系统，标榜兼具更低测试成本、更高功能扩充性及更快部署的优势，为传统半导体自动化测试设备(ATE)制造商带来不可小觑的威胁。

　　美商国家仪器精密直流资深产品经理Joey Tun表示，PXI架构的半导体测试系统具备多通道特性，不仅较传统ATE测试速度更快，且功能扩充弹性高，可望获得更多类比和射频元件厂商的青睐。

　　美商国家仪器精密直流资深产品经理Joey Tun表示，随着产品规格不断提升，类比及射频(RF)元件开发商亦须持续汰换测试系统，以满足新产品的测试需求;然而，传统半导体自动化测试设备(ATE)的替换成本高昂，使得晶片商须负担的测试成本日益沉重。

　　为满足类比与射频元件业者对更低测试成本的需求，美商国家仪器正挟PXI模组化架构的半导体测试系统，积极扩大在半导体后段制程设备的市场渗透率。

　　Tun指出，开放式PXI模组化架构开发的半导体测试系统，可协助类比及射频元件制造商缩减测试成本，同时弹性增加新功能。

　　此外，美商国家仪器也于PXI半导体测试系统整合TestStand测试管理软体和LabVIEW系统设计软体，为半导体厂商提供丰富的功能组合，如可客制化的操作介面、标准测试资料格式报表制作等，助力类比及射频元件开发商快速于海外产线建置完整的半导体自动化测试方案。

　　据了解，目前IDT、亚德诺(ADI)等半导体业者已相继于后段半导体制程采用美商国家仪器的半导体测试系统，藉此大幅减低整体生产测试成本。

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