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基于运算放大器的性能测试仪设计
利用运算放大器输入的比较特性设计，制作运算放大器速测仪能够进行快速、准确地判测所测运放的好坏，在元器件选择中十分有用。电路原理测试仪基本设计思路是将待测运算放大器(图中IC1，IC2,IC3,IC4)接成比较器结构，当V+V-时，Vout为正电
2012-07-10 10:38
利用运算放大器输入的比较特性设计，制作运算放大器速测仪能够进行快速、准确地判测所测运放的好坏，在元器件选择中十分有用。电路原理测试仪基本设计思路是将待测运算放大器(图中IC1，IC2,IC3,IC4)接成比较器结构，当V+V-时，Vout为正电
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