IC测试原理解析(第三部分)

IC测试原理解析(第三部分)

     最大转换速率(maximum conversion rates)是芯片规格书指标之一。当DAC的输入变化时，其输出端需要一段时间才能得到稳定的相应输出值。最长的稳定时间就是最大转换速率。
    
     建立时间(settling)是指输出值达到并稳定在预定值的 -1/2LSB范围或某些别的规定范围之内所需的时间。
    
     ADC动态参数指标
    
     信噪比(SNR)的概念与运算放大器的概念一样。和THD测量类似，给ADC输入端加一个纯正弦波，通过ADC芯片的采样之后，输出一组数字代码。再用数字信号处理算法提取其中的SNR信息。SNR的单位是dB。
    
     总谐波失真(THD)的概念与运算放大器的概念一样，但他们的测试方法不一样。给ADC输入一个纯正弦波，输出是一组由正弦波采样而来的数字代码，我们再把这些代码与理想正弦波特性进行比较。使用数字信号处理算法提取其中的总谐波失真信息。单位是dB。
    
     信号与噪声谐波比(SNDR或SINAD)是基波分量与噪声及谐波失真分量总和的比值，单位是dB。
    
     互调失真(IM)用于测试由两种频率互调而产生的非谐波分量的失真。这种失真是由待测芯片的非线性度而引起的。测试该参数时-先给待测ADC输入两个频率分量模拟波形，再计算输出数字代码中的两个频率之和及之差信号分量。
    动态范围(Dynamic range)是指ADC输入信号幅度的最大值与最小值的比值，单位是dB.理想ADC的动态范围是20log(2bits-1)。
    
     无杂波动态范围(SFDR)是指基波或载玻分量与其它非基波和载波的最大杂波的频率分量(可以是谐波或失真波)的比值，单位是dB。
    
     到此为止，我们讨论了相对简单的存储器和逻辑芯片的测试技术，也介绍了复杂混合信号芯片的特殊测试要求。在接下来的最后一章，我们将介绍射频/无线芯片的测试。