使用PIM分析仪测试连接器互调的新方法

使用PIM分析仪测试连接器互调的新方法

该系统中两个大功率载频f1和f2通过双工滤波器发射到DUT，终端接50 Ω负载。PIM产生的杂散信号在DUT中产生，并在两个方向传播——“前向”到匹配负载，“反向”到双工滤波器。发射激励信号的频率和被测的IM产物的频率由双工滤波器的TX和RX通道决定。接收机测量反向传播的IM波功率。PIM测试分为两种，一种是传输测试法，如图3所示，另一种是反射测试法，如图4所示。本文采用反射法测量，发射功率均为43 dBm。当载频为f1和f2，测量的IM产物的频率为2f1-f2。

　　研究发现连接器中的非线性失真产生于沿着连接器的方向上的某一个特殊点(很象适配器上的金属和金属的连接接点)。在这个基础上，对被测器件分析。

      DUT非线性产生的IM形成两个电压波：为反向传播IM电压波，它由DUT的反向端面发出；为前向传播IM电压波，产生于DUT的前向端面。如图5所示。电长度lback，lDUT，lfront决定PIM的值。lfront为DUT反向断面到DUT内部第一个非线性点的距离，lDUT为DUT中第一个非线性点到最后一个非线性点之间的距离，lback为最后一个非线性点到DUT前向端面之间的距离。源Vfront和Vback表示出现在DUT端面的测量系统的残余IM以及负载的电长度lload和负载阻抗Zload。不同的电长度lback，lDUT，lfront也对应着不同的反射系数，为了便于分析，引入图6的模型。源反射系数，负载反射系数包含的信息不但表明了被测器件的各种电长度，还表明了在不同负载下的匹配状态。