第十轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心(中电科第十三所)测试提供，数据包括350MA下白光、红光、绿光、蓝光光源测试结果，20MA下白光、蓝光器件测试结果以及其它电流下白光、黄光光源测试结果。测试方法标准为SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法。
二. 测试结果
350MA白光光源 CRI和CCT随光效变化情况
 
   一.测试说明
第十轮光源器件测试报告分析
来源：中山LED网 作者：--- 时间：2012-02-03 00:00
核心提示： 一.测试说明 第十轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心(中电科第十三所)测试提供，数据包括350mA下白光、红光、绿
