QED公司引领拼接测量技术革命

来源:中国光电网 作者:—— 时间:2012-08-08 09:10

       QED公司采用拼接方法测量非球面的ASI设备是拼接测量技术的一次革命。现在,这个团队又将带来全新的ASI(Q),它将使得您测量和制造复杂光学元件的能力得到进一步提升。
  
       ASI(Q)采用了QED的干涉仪QIS (QED Interferometer for Stitching)。

       该干涉仪针对拼接应用专门进行了优化,使得用户可以在更高条纹密度、更短曲率半径的光学元件上获取高质量的数据,同时具有更高的分辨率和更小的误差。在此之前,没有一种商用测量系统可以测量大偏离量的非球面。
 
       欢迎您光临展位9J44,以获取ASI(Q)以及其他产品的更详细的信息。如需预约,请联系QED中国区代理江华明博士(电邮:hjiang@vip、163、com)

       QED是子孔径拼接干涉测量设备(SSI)和磁流变抛光设备(MRF)的唯一供应商。

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