安立公司将在2014年EDI CON (电子创新会议)上呈递一系列关于高频测试的报告

安立公司将在2014年EDI CON (电子创新会议)上呈递一系列关于高频测试的报告

　　通信测试解决方案的全球领导者安立公司宣布，将在于4 月8 日至10 日在中国北京北京国际会议中心举行的 2014 年电子设计创新会议 (EDI CON) 上进行一系列展示。 由安立公司的代表所做的三场演讲将解答工程师们在测定以微波及毫米波 (mm-wave) 频率运行的器件特征时遇到的问题。

　　高达 110 GHz 的稳定表征晶圆宽带器件分析

　　安立公司产品营销经理Bob Buxton 将于4月8 日进行一场演讲。该演讲报告将涵盖器件分析工程师们遇到的测试问题，并提供可进行 S 参数测量的解决方案——使用基于 VectorStar? 的宽频矢量网络分析系统(频率覆盖范围为 70 kHz 至 110 GHz)。 还将介绍将这种功能扩展至 145 GHz 的全新操作。

　　准光学、自由空间毫米波和 THz 范围材料测量方面的进展

　　由安立公司的 Jon Martens 博士与 Virginia Diodes, Inc. 的 Jeffery Hesler 和 Alex Arsenovic 提供的本报告将汇报从 100 GHz 范围内的自由空间测量到 1 THz 准光学测量的技术。报告中将讨论所有这些测量中的校准流程、需要的样品形态以及预期可重复性水平。该演讲报告计划于 4 月 10 日进行。

　　真实差分驱动测量中的不确定性和稳定性

　　Martens 博士将于 4 月 10 日星期四做第二场演讲报告，将着重介绍差分驱动测量。 许多高速元件的特征分析和模型开发可能包括在真实驱动条件下的差分回馈损耗、传输及模式转换测量。因此，真实的差分驱动通常需要处于大信号水平，其测量具有挑战性。本演讲将讨论一种可以高度可靠地进行这些测量的方法以及了解不确定性降级对尽可能减少重新校准次数和提高数据可信度的重大帮助。