免费直播预告 | 从理论到实操，全面解析ADC/DAC芯片测试前沿方案！

在半导体测试领域，ADC（模数转换器）和DAC（数模转换器）芯片的性能直接关系到整个系统的精度与可靠性，而高效、精准的测试方案则是确保芯片质量的关键。然而，面对复杂的静态/动态参数、多样化的测试需求，如何选择合适的测试方法？如何提升测试效率？德思特创新的 ATX测试系统 以其 “All in One” 的高集成度设计，为ADC/DAC芯片测试提供了全新的解决方案。

本次课程，我们将从基础知识、方案解析到实操演示，带您系统掌握ADC/DAC芯片测试的核心要点。6月19日 14:00《ADC/DAC芯片测试前沿：德思特ATX系统高效方案与实战攻略》线上研讨会来袭！点击即刻预约直播：

· 课程亮点

1、直击行业痛点

ADC/DAC测试参数复杂、效率低下？德思特“All in One”ATX测试系统如何实现 效率提升10倍？

2、从理论到实战

系列课程，覆盖基础参数计算→方案解析→真实芯片（AD7671/LTC2641）实操演示，手把手教学！

3、独家案例分享

揭秘德思特ATX系统在头部芯片厂商的高效测试应用场景，助您快速复制成功经验！

4、独家案例分享

直播现场解答 ADC/DAC测试常见难题，包括待测板设计、动态参数优化等“踩坑”问题！