爱德万测试推出物联网装置测试需求之Wave Scale MX Channel Card

爱德万测试推出物联网装置测试需求之Wave Scale MX Channel Card

　　半导体测试设备领导供应商爱德万测试为Wave Scale MX产品系列增添生力军，推出高解析度、高精确度的混合讯号通道卡，扩大该系列于测试类比数位与数位类比波形转换器的範畴。全新高解析度Wave Scale MX卡具备业界最高平行测试能力与最佳交流与直流效能。藉由这些特性，爱德万测试V93000测试平台在测试类比数位波形转换器时，得以满足越来越严格的低失真，精确度和线性度需求，同时也有助缩减消费性音频与物联网装置的测试成本及上市时间。

　　爱德万测试产品事业资深副总裁Hans-Juergen Wagner表示：「爱德万测试最新高解析度Wave Scale MX卡拥有最高的通道数量与密度，能支援更广的讯号範围，也使音频组件具备更高的输出功率。」

　　该通道卡能为单端或差分信号提供多达32组高效能与完全独立的交流与直流量测的能力，其中包括16组任意波形产生器(AWG)与16组的数位转化器。该通道卡具备区域温度控制的机制，确保直流量测维持最高稳定度，且单端讯号可参照各通道的接地感应线，以达到最完美的信号保真度。而且每个脚位均有一组参数测量单元(PMU)，可执行极精準的直流量测。此外，该通道卡支援单端讯号的振幅範围最高达20 Vpp，差分讯号则可达40 Vpp。所有功能皆由Testprocessor软体控制以达最大化的产出与量测重复性。

　　Wave Scale MX无资源共享的创新架构能在32组工具上有截然不同的设定且进行同步测试，除能满足元件内部平行度的需求外进而能达到极高多元件同测效率，大幅降低复杂混合讯号的测试成本。爱德万测试除了推出具备独家高解析度资源的通道卡，也推出兼具高解析度与高速功能的Wave Scale MX混合卡。

　　爱德万测试即日起受理高解析度与混合式Wave Scale MX卡的订单。

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