弃BIST转投ATPG,Magma确立可测试性设计方略

来源: 作者: 时间:2006-12-12 00:56

    

       据Magma Design Automation公司发言人透露,因背弃其可测试性设计(DFT)成效而备受垢病的Magma正暗地里开发一种自动化测试模型生成(ATPG)产品。Magma还将在国际测试大会(ITC)上公布其为数众多的第三方联盟。


    

       John Cooley的Deepchip网站最近发文指出,Magma两年前在ATPG和存储器内建自测试(BIST)上有过重大举措,但似乎都有始无终。据Ageia Technologies的一位工程师透露,该公司中意Magma的存储BIST工具Beta版,但Magma于2006年1月取消了这一项目。


    

       实际上,Magma确实决定退出BIST市场,Magma公司设计实现业务部产品总监Dwayne Burek坦承。“我们已将重心转为几乎所有客户都能使用的ATPG。而BIST,许多人有第三方或自有解决方案,你得为每一个客户度身定制。”Burek表示,Magma已有一款处于“alpha”测试阶段的ATPG产品,但该公司还未决定何时推出产品。他称该ATPG产品具有“非常崭新的架构”,能够定位小延迟错误。


    

       Magma将在ITC大会上演示其 Blast Create IC设计工具与LogicVision、Mentor Graphics和Genesys Testware的BIST工具的互用性,Mentor Graphics的测试压缩,以及Virage Logic的嵌入存储测试和修复。

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