Alliance IEEE 1149.1 JTAG产品

Alliance IEEE 1149.1 JTAG产品

     （华强电子世界网讯） Alliance公司近日推出IEEE 1149.1兼容JTAG系列产品，为网络、通信、存储、计算和内嵌系统中PCB的面向测试设计提供有效解决方案。
    
     JTAG产品允许OEM伙伴在板、系统或子模块层面上开发高集成IEEE 1149.1测试算法，便于系统工程师缩减闪存和CPLD/FPGA的编程时间，在工厂和野外实现更高故障范围和系统诊断。
    
     这一系列包括四款产品：3端口JTAG网关，6端口JTAG网关，JTAG测试控制器和JTAG测试序列发生器。其中3端口和6端口JTAG网关可将长JTAG链路拆分成3或6个小链路，在链上的不同组件间建立隔离，并加速设备的存取时间。JTAG测试控制器具有一般CPU接口，允许主机或软件控制JTAG链路，对错误隔离和系统调试尤为重要。
    
     JTAG测试序列发生器具有Flash接口，通过JTAG链路运行并比对结果，执行存储在Flash内的JTAG测试。根据系统需要，这四种设备可任意结合使用。
    
     技术要点：
    
     可添加新型硅设备，无需描述不可测试的PCB
     使用IC内的BIST进行PCB诊断
     可诊断卡间子框架的底板上出现的互连错误
     为保持JTAG链路的完整性，可借助软件、无跳线进行子框架间寻址
     将JTAG长链路分割成多个可寻址子链
     缩减链路分割的闪存编程时间
     无需从系统中拆出PCB即可进行FLASH和CPLD升级
     添加故障诊断功能
    
     Alliance公司现已提供样品及成品，所有设备均采用无铅100引脚LQFP封装。