研讨会思考：3C认证检测中电磁兼容问题与对策

研讨会思考：3C认证检测中电磁兼容问题与对策

     （华强电子世界网独家报道） 记者逍遥风上海现场报道 11月20日上午，上海光大展会中心东馆举行主题为“电子产品3C认证检测中常见电磁兼容问题与对策”的研讨会，演讲者信息产业部电子五所朱立文。
    
     此次演讲的主要内容是，首先就AV、IT类产品在3C认证检测中常见的电磁兼容技术问题及其原因进行举例分析，并针对不同类型的问题提出一些针对性较强的整改对策方案，以供大家参考。并同时就3C认证电磁兼容测试中碰到的一些影响进度的非技术问题进行探讨、沟通，以加快认证检测的进度。
    
     3C认证自今年3月开始声名外传、5月份延迟推行、到8月份正式执行以来，“3C”已经成了家喻户晓的字眼，可业者及消费者对3C的认识程度、接受程度到底到了哪个层次，估计还不能太乐观。很多人对3C认证检测过程的透明度、其本身标准的科学性和市场威慑力都存有相当的疑问，这跟有关部门没能进行充分、有效、有组织的宣传推广活动有很大关系。再加上最近的电子产品“3C融合”浪潮铺天盖地地袭来，此“3C”非彼“3C”，更是令众人找不到北。
    
     因此，当记者观察到3C认证研讨会参会者大多是技术人员及制造商时，感觉似乎看到了一道曙光。3C的推广执行、深入人心，必须得从根本做起，从技术人员、从制造企业做起。
    
     好的展会除了促成交易外，必须承担许多额外的社会责任，并且通过切实的方法途径来达到期望的效果。NEF在促进业者交流沟通的同时，也为广大技术人员和厂商提供了一个极好的了解3C的机会，这对社会带来的良性互动影响不可估量。