Advantest的SoC测试仪可同时检测8个器件

Advantest的SoC测试仪可同时检测8个器件

     (华强电子世界网讯) Advantest公司的系统级芯片(SoC)测试系统T6500系列可同时测试8个器件，其目标应用是测试高速ASIC、SoC和微处理器。
    
     T6500系列包括T6575测试仪(125MHz至500MHz)、T6565(62.5MHz至250MHz)和T6535(31.25MHz至125MHz)。通过方便地替换测试站的主时钟卡，低端系统可以升级到较高的测试速度。
    
     这种自动测试设备(ATE)采用521个数字插脚，并计划装备宽带视频任意波形发生器和数字转换器、精确音频AWG和数字转换器、1ps解析度的定时测量单元。该设备甚至考虑为测试蓝牙和802.11器件增加一个射频(RF)选件。