测试时间缩水 封测业受牵连
来源:工商时报 作者: 时间:2007-04-16 18:03
DDR2报价跌破内存厂成本,DRAM业者除先降低测试时间,与下杀后段封测报价外,近来因OEM合约市场需求疲弱,内存厂转向提高对有效测试(eTT)现货市场供给量,此举等于二度缩短测试时间。所以现在DRAM测试厂的产能利用率已下滑二成至三成,对部分内存封测厂第二季的营运绩效造成冲击。
在DRAM需求不佳的情况下,近来五一二Mb的DDR2现货跟合约价格,已经滑落到二.五美元至二.七美元间,此价格让DRAM业者陷入亏损的窘境,为此诸多内存厂开始缩减内存后段测试时间,以DDR2来说,终端测试时间大致上已经缩减到三百秒至四百秒,较去年的四百五十秒至六百秒大幅缩减,同时内存厂为降低营运成本,更要求内存测试厂降价共体时艰。
封测业者指出,近来因为提高出售到现货市场DDR2比重,导致内存后段测试时间缩减的内存大厂中,以尔必达落差最大,目前平均测试时间恐只剩下原先的三成至五成。至于在台湾释出后段测试订单的海力士,测试时间与报价都远优于市场。