初次芯片设计逾6成不合格 需退回重新修改设计
来源:电子时报 作者: 时间:2003-09-16 18:21
(华强电子世界网讯) 根据网站SBN消息来源指出,全球EDA设备领导厂商Synopsys董事长暨执行长Aart de Geus日前引述市调机构DeepChip所公布最新报告指出,全球有61%以上的整合型组件及ASIC芯片在初次设计时,需退回重新修改设计,并退回晶圆厂进行至少一次的再旋转过程(respin)。
他亦指出,仅有39%不到的芯片在初次设计时,就无需再行修改,此一最新数据显示出芯片设计以及芯片供货商所需面临的难题。
Geus指出,功能性逻辑方面的错误(functional logic errors)乃是最大问题来源,占所有初次芯片设计退回重修比例超过43%,其次则是在模拟调整(analog tuning)方面,占所有重修芯片设计的20%左右,讯号整合性(signal integrity)问题亦占了17%。
(编辑 汪风)
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