Tektronix发布Superspeed USB测试方案

Tektronix发布Superspeed USB测试方案

     Tektronix推出适用于Superspeed USB (USB 3.0)装置特性分析、除错和自动化兼容性测试的工具组，新的USB-TX选项搭配DPO/DSA70000B示波器，提供可验证USB 3.0发送器装置的单键式解决方案。该公司亦推出USB 3.0测试治具，让工程师能够执行准确的发送器、接收器和缆线测试。
    
     USB-TX可支持标准测试以及具有信息参考性的所有测试，如展频时脉(SSC)、回转率、电压位准及其它测试项目。其它可用的解决方案仅支持特定兼容性标准，而Tektronix USB-TX却可提供完整且全面的特性分析、除错和兼容性工具组。
    
     选项USB-TX建置于TekExpress平台系统，专用于高速串行资料标准的自动化单键测试。TekExpress模块是以标准组织指定与公布的测试需求和实作方法(MOI)为基础。所有测试步骤均采自动化，使客户仅需选择想要的测试，即可获得含有通过/失败与边际分析结果的完整报告。除了全新的USB 3.0产品外，目前亦推出支持SATA和DisplayPort的自动化模块。
    
     此外，Tektronix USB3.0测试解决方案整合独一无二的插座型式测试治具，能在探测时尽可能接近硅晶，以提供最真实的代表性讯号。