半导体元器件零缺陷需求呼声日益高涨
来源:华强电子网 作者:—— 时间:2012-03-09 09:24
实施PAT有两种主要方法:实时PAT和统计后处理(SPP)。供货商必须清楚是否要在探测和最终测试中采用两种不同方法,还是只采用一种方案更有意义。实时PAT根据对动态PAT限制的运算,在不影响测试时间的情况下,当零件被测试时就作出分选决策。这就需要能够处理监测和取样的复杂数据串流的动态实时引擎。
同样,这一过程也需要强韧的统计引擎,该引擎可撷取测试数据并执行必要的计算以产生新的限制值,将新限制值和分选信息送入测试程序;同时,监测整个过程以确保稳定性及可控性。供货商需要对探测和最终测试进行实时处理并处理基线异常值。 统计后处理方法会产生相同的最终测试结果,在一个批次完成之后,要对元器件测试进行统计处理并作出分选决策。
然而,因为分选决策是在批处理后作出的,后处理只能用于晶圆探测,因为测试和分选结果与特定元器件相关,以便重新分选。在封装测试中,元器件一旦被封装,就没有办法追踪或顺序排列,因而无法将测试及分选结果与特定元器件联系起来。SPP还要求进行完全测试结果的数据记录以便做出决策,日益增加的IT基础架构需要(大量时间)并大幅放慢了测试时间。由于结果被后处理,因此SPP将一个批次中基线异常值作为元器件整体的一个部份进行处理。
两种方法在处理测试和分选结果时都需要执行强大的运算,就像区域性PAT和其它故障模式一样。区域性PAT的实例是一块晶圆中的一颗合格芯片被多块有故障的芯片包围。研究显示:这颗合格元器件很可能过早出现故障,要努力减少汽车元器件中的DPM,大部份供货商都必须找到这颗合格元器件。
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