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美开发出碳奈米管元件可靠度测试技术
美国国家标准与技术研究院的研究人员近日透过测试发现，碳奈米管元件的可靠度会是一个大问题。NIST对金属电极之间众多奈米管导线的测试结果显示，奈米管可承受非常高的电流密度──耐受度是一般半导体电路的数百倍──时间长达数小时，但在持续不断的电流之下
2011-08-19 09:39
美国国家标准与技术研究院的研究人员近日透过测试发现，碳奈米管元件的可靠度会是一个大问题。NIST对金属电极之间众多奈米管导线的测试结果显示，奈米管可承受非常高的电流密度──耐受度是一般半导体电路的数百倍──时间长达数小时，但在持续不断的电流之下
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