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NI PXI SMU为半导体测试系统提升多达6倍的通道密度
NI(美国国家仪器，NationalInstruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供基于平台的系统解决方案来应对全球最严峻工程挑战的供应商，今日宣布推出PXIe-4163高密度源测量单元(SMU)，该测量单元提供了比以往NIPX
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深耕中国市场 MVG推物联网OTA测试系统
对于正在到来的5G和物联网时代，无论是终端厂商还是测试厂商都面临新的挑战。就5G测试而言，由于更宽的频谱和更高的频率将涉及多个小天线单元和设备内部处理，这就需要把重点从天线测试转移到系统测试，OTA测试用例也随之大幅增加。作为全球领先的天线测试
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基于J750EX测试系统的SRAM VDSR32M32测试技术研究
VDSR32M32是珠海欧比特公司自主研发的一种高速、大容量的静态随机器(SRAM)用其对大容量数据进行高速存取。本文首先介绍了该芯片的结构和原理，其次详细阐述了基于J750测试系统的测试技术研究，提出了采用J750EX测试系统的DSIO及其他
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LitePoint携手ETS-Lindgren开发蓝牙天线测试系统
LitePoint宣布与ETS-Lindgren合作开发，针对低功耗蓝牙装置天线的空中传输(OTA)讯号测试方案。至目前为止，低功耗蓝牙产品开发者，必须使用导线传输(WiredTest)方案来测量天线性能，这个方式并不能够得到最準确的总辐射功率
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R&S率先推出汽车组件802.11P RF一致性测试系统
未来智能运输系统(IntelligentTransportSystems;ITS)将帮助减少交通拥挤并改善交通安全性，罗德史瓦兹(RohdeSchwarz;RS)推出TS-ITS100测试系统协助汽车产业进行组件的一致性测试，快速开发车对车应用
2014-07-30 17:09 -
莱特波特推出新一代千兆位Wi-Fi 测试系统
莱特波特?(LitePoint?)今天宣布推出IQxel?系列Wi-Fi测试仪的最新成员——莱特波特?IQxel160。该测试系统可用于处理802.11acWi-Fi标准的最高数据速率和带宽选项,有助于引进速度更快、更强大的新一代“千兆位Wi-
2013-02-26 09:52