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爱德万测试推出全新大量的平行测试治具
半导体测试设备领导厂商爱德万测试推出RND440Type3治具装置，作为强化T6391LCD驱动IC(DDI)测试机台的选择配备，具备大规模平行测试新世代智慧型手机面板所用薄膜覆晶封装(Cof)晶片的能力。此治具装置专为因应不断成长的DDI接脚
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HIOKI推出高精度4端子测试治具IM9100
HIOKI推出世界首款可高精度4端子测量0402尺寸SMD的测试治具IM9100。随着智能手机的普及，电路板表面安装的元器件(SMD)越来越小，而IM9100就是能满足今后将成为主流测量的0402尺寸(0.4mm×0.2mm)的SMD测量的产品
2014-08-22 10:08