Sonoscan声波显微镜能加快手工检查芯片缺陷

Sonoscan声波显微镜能加快手工检查芯片缺陷

即将召开的美国Semicon West展览会(13-15 July) 上美国Sonoscan公司将推出最新的声波显微镜。它是全球最新一代的超声测试设备,可在生产线中用手工扫描方法来检测器件的缺陷等。

原理 ：
利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。
 
应用:
D9500以其无与伦比的精度和稳健性成为了现代微声学成像的标准，是失效分析，工艺开发，材料分析与表征和小批量生产的最佳选择。D9500采用同时传输和反射模式，并且应用更新更符合人体工程学设计。

主要特征：
.惯性平稳扫描装置能减少振动，确保最佳的扫描结果
.拥有多种频率的探头,能够细致清晰扫描物体内部；
.非破坏性，对粘接层面敏感；
.能穿透大多数材料
.新的，更大的扫描范围，有多个托盘可以容纳大样本
.多语言操作系统，使用者可以选择母语：中文，英语和日语。
.温度控制选择：无论周围环境中空气温度变化，会确保一天中水的温度保持不变
B型扫描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan特有的B型扫描模式，为用户提供一个极准确且包含深层数据的虚拟横截面。