安森美ATPAK封装兼容DPAK,体积还小35% 可用于现代电源设计
半导体器件技术的不断发展,使现有的应用能够更好地实现,以及推进新的应用。最近的创新从根本上改进了封装技术的方式,特别是有关汽车和针对电源的应用。
目前,对于MOSFET封装的事实上的标准是DPAK封装-三引脚表面贴装器件,有大量贴装标签以提供最佳的热传导和物理优势。小型和方便的卷带封装形式非常受欢迎,尤其在自动化制造环境中。
尽管DPAK的普及,但也有缺点。当今的超薄设计中的许多器件都大大低于DPAK封装的2.3mm高度。另外,DPAK采用的非常薄的(~70um)线邦定限制热性能和电气性能,即使在多个邦定并联时。这也限制了现代电源相关设计要求的降低导通电阻(RD SON)的能力。
为了解决这些限制,安森美半导体的ATPAK(‘Advanced Thin PAcKage’)已作为新一代封装被推出,用于现代电源设计。ATPAK高度仅1.5mm,占位与DPAK封装,从而缩减35%的尺寸,同时仍向后兼容现有的DPAK封装设计。

ATPAK以新的铜夹取代DPAK封装的线邦定,有利于降低封装的热阻,和实现电源设计中更高的密度。铜夹的本质上更大的横截面积减小导通电阻,提高能效,降低功耗和发热以及增加电流承载能力到以前仅D2PAK才能达到的100A,而D2PAK的尺寸比ATPAK大约7倍。
安森美半导体进行了基准测试,以比较DPAK封装与新的ATPAK封装的热性能。结果表明,ATPAK所用的新的夹焊技术带来改善的热性能。此外,ATPAK散热能力优于DPAK-尽管少35%的体积-导致结温降低6.2℃,从而提供更高可靠性。

安森美半导体的汽车ATPAK MOSFET方案提供全系列产品用于各种不同的汽车应用。新的N沟道和P沟道器件的最大电流处理能力达120A(ID Max),导通电阻值(RD SON)低于5毫欧,支持未来在严格要求的应用中的高能效工作。
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